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1NM掃描電遷移粒徑譜儀

30多年來，TSI的SMPS粒徑譜儀被廣泛作為測量亞微米和低納米范圍內(nèi)氣溶膠粒徑分布的標準。用戶通過儀器和3757型納米增強CPC以及3086型差分靜電遷移分析儀的配合使用，可以以高分辨率和高速度測量粒徑和數(shù)量濃度，并監(jiān)測小于1nm的工程和天然氣溶膠粒子的反應動力學和新粒子生成。

型號：1NM掃描電遷移粒徑譜儀

品牌：美國TSI

1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點與優(yōu)勢
快速獲得粒徑和數(shù)量濃度的高分辨率數(shù)據(jù)
·優(yōu)化使擴散損失最小
·1至50nm間>109個通道
·配合3081A長DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測量從1nm到1µm 3個粒徑數(shù)量級的粒子
模塊化組件設計，可以根據(jù)用戶測量需求定制，例如單獨使用1nm CPC等
內(nèi)置診斷和自動檢測系統(tǒng)組件，可以獲得可靠和可重復的測量數(shù)據(jù)
易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件
多功能的粒子測量方式：適用于多模樣品
 
1NM掃描電遷移粒徑譜儀應用范圍
基礎氣溶膠研究
通過粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產(chǎn)生和成核/凝結(jié)）研究粒子成核和粒子生長。
燃燒和發(fā)動機排氣研究（有機燃料、低于3nm的排放、天然氣發(fā)動機、塑料成型和焊接
過濾研究
吸入或暴露室研究
*SMPS光譜儀包含3082型分級器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強儀和3750型凝聚核粒子計數(shù)器等組件。
1NM掃描電遷移粒徑譜儀技術資料

●產(chǎn)品資料一

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